©Vanessa Avramovic

Christophe BoyavalAssistant ingénieur en instrumentation des semiconducteurs

Médaille de cristal du CNRS

Responsable du pôle caractérisation de la Plateforme centrale de micro nano fabrication de l’Institut d'électronique, de microélectronique et de nanotechnologie1  (IEMN).


" J'ai intégré l'IEMN en 1995 sur les activités de microscopie à balayage électronique (MEB). Une quinzaine d’années plus tard, l’Equipex Excelsior avait pour objectif de faire émerger des recherches aux interfaces entre la microscopie à l'échelle nanométrique et les techniques de caractérisations couvrant les domaines des micro-ondes au moyen infrarouge. J'ai ainsi participé au développement de deux instruments inédits opérant sous MEB et permettant des applications uniques en termes de caractérisations hybrides à l’échelle nanométrique et en environnement contrôlé. Imaginer et concevoir ces nouveaux instruments à la pointe de la technologie, coupler ces techniques de mesure, interagir avec des collègues de spécialités transversales : tels sont les défis qui m'ont motivé. "

  • 1CNRS/Université de Lille/Université polytechnique Hauts-de-France/Centrale Lille Institut

CV

  • 1995 : Entrée au CNRS – Spécialiste en microscopie électronique à balayage
  • 2012 : Début des travaux sur l’Equipex Excelsior
  • 2016 : Responsable du pôle caractérisation de la Plateforme centrale de micro nano fabrication de l’IEMN